发射率对红外热像仪测温精度的影响
电话:010-67506261(多线)
optris@bjrise.com
主要产品:红外测温仪,红外热像仪,黑体炉
德国欧普士红外测温 网站地图
E-mail:optris@bjrise.com
●产品目录
●联系我们
目前,红外成像技术已经广泛应用于军事领域,成为现代武器装备的重要技术。红外成像系统的研制,离不开靶场实验,因此,研究能够模拟各种军事目标红外辐射特性的红外靶标有着极其重要的现实意义。红外靶标系统中,红外热像仪负责实时监测红外靶标各区域的温度,红外靶标系统根据红外热像仪测量的温度,调整各区域的温度,使红外靶标系统的红外辐射特性接近被模拟目标。在红外靶向系统研制过程中,红外靶标系统的表面发射率对红外热像仪测温精度影响很大,由此直接影响红外靶标系统的精度。
根据实验结果可知,在测量目标表面真实温度时,目标表面发射率越小,红外热像仪测温误差越大;目标表面发射率越大,红外热像仪测温误差越小。此外,设置的目标表面发射率误差和采集的环境温度误差也对红外热像仪测温误差有着很大的影响。根据以上分析,应当避免测量目标表面发射率很小的目标温度。