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        　 电子电路的故障一般分为短路、断路和接触不良。电路正常工作与带故障时，电子元件所发出的红外线是不一样的，也就是说电路正常工作时，电路板热成像与有故障的电路板热成像有很大区别。
        　 当电子元件发生故障时，有两种情况：一是短路，短路时电流较大，元件较热，其红外线辐射量大，此时热成像较正常是红外成像变化很大；二是当元件断路（接触不良）时，流过元件的电流值几乎为零，所以，元件温度较正常工作时低，几乎没有红外辐射，此时，热成像与正常时热成像差别较大。利用这一原理很容易的就判断出电子电路故障点。 红外热成像为测试人员提供了一种独特的IC 测试方法, 通过一次红外扫描成像, 即可获取板上每个 IC 的功耗值, 并变成可视信息供测试人员进行故障诊断。