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主要产品：红外测温仪，红外热像仪，黑体炉
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        　 液晶屏可能会由于质量问题造成坏点，但坏点通常很小，要检查出和分析其损坏原因非常困难，红外检测是目前行之有效的检测方式，但微米级级别的坏点和非常小的温差是红外检测的难点，下面叙述使用红外热像仪对液晶屏进行坏点检测的过程和系统解决方案。
        　 检测案例： 我们需要对液晶面板上的像素点进行检测，如果有坏点，或其它的缺陷，因其内阻较高，在热像图中呈现的是热点，该现场存在两个检测难点：
        　 1、目标小：液晶屏每个像素点尺寸为微米级别，最小的像素点尺寸仅为40微米，各型号略有差异。
        　 2、温差小：受到液晶屏整体发热的能量传递因素影响，坏点的温度与正常部位的温差一般在1℃之内。
        　 解决方案：
        　 1、配套微距镜头，可根据现场实际情况配置微距镜头2或微距镜头3。
        　 2、安装三脚架和二维可调精密位移云台。
        　 3、建议将调色板设置为灰度模式，方便小温差情况下的观测。
        　 4、因液晶屏表面是玻璃材质，检测时注意人员或其他设备不要在液晶屏表面造成反射干扰，建议用不透红外能量的材料（如布、纸张等进行遮挡，不要用塑料纸）。